型番：ISBN：978-4-915851-75-9

商品名：干渉計を辿る 先端光学技術を支える多様な干渉計測
ISBN：978-4-915851-75-9
著者：市原　裕
判型：A4変形，186頁
発刊：2020/12/2

概要：

　本書は，O plus E2015年11月号から2020年1・2月号まで連載したものを単行本としてまとめたものである。ニコンで40年にわたり干渉を利用した各種の計測器（干渉計）の開発を行うなか，著者が身に着けた，教科書には書かれていない経験やノウハウを本書でまとめている。現場の息吹が，生きた学問が感じられる，干渉を利用する光学技術者への贈り物である。

目次

第1章　白色干渉計を用いたレンズ厚測定
第2章　測長用干渉計
第3章　面形状測定用干渉計
第4章　光学実験法（干渉計実験法）
第5章　非球面計測用干渉計
第6章　波面収差測定用干渉計
第7章　チャネルドスペクトラム
第8章　回折と干渉（波動光学的結像）
第9章　干渉式エンコーダー
第10章　反射型ホログラムの開発
第11章　コヒーレンスとその制御
第12章　偏光の干渉とエリプソメーター
第13章　干渉計　補足

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販売価格：3,300円（税300円）

下記URLに書評が掲載されています。
■日本光学会　光学・OR・ウェブニュース【新刊紹介】
http://myosj.or.jp/publication/webnews/20210317-3733/
■『光技術コンタクト』2020年12月号
http://www.joem.or.jp/2020-12-s.pdf.pdf
■日刊工業新聞　技術科学図書（2021年1月27日）
https://www.adcom-media.co.jp/info-oe/2021/02/10/37913/