OplusE 2000年5月号(第246号)

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特集

ナノ加工・ナノ計測

■高精度表面加工技術の動向
東京理科大学 宮本 岩男,谷口 淳
■極端紫外線リソグラフィー用光学系の開発と評価
姫路工業大学 木下 博雄
■超平滑・高精度表面形成プロセスのモデリングとシミュレーション
大阪大学 広瀬喜久治,稲垣 耕司,杉山 和久,後藤 英和,森 勇藏
■レーザーアブレーションによる高精度光学表面の形成
大阪大学 實野 孝久,ナルックス 徳村 啓雨
ソニー・テクトロニクス 玉村 寿
■位相シフト干渉法による高精度表面形状計測
東京農工大学 大谷 幸利,吉澤 徹
■ナノメートル級再現性をもつ3次元形状計測装置
ニコン 塩澤 久,福冨 康志

連載

■OWLS VI会議報告
北海道大学 岩井 俊昭
■OFC 2000会議報告
日本電信電話 内山健太郎
■第6・光の鉛筆[10] 「大気によるコントラスト低下と視程」
ニコン 鶴田 匡夫
■コンピュータ イメージ フロンティア 特別編 千年紀末を越えて 「ダイクストラはかく語りき」
Dr. SPIDER
■私の発言 「近接場光記録を一般ユーザー向けの実用技術にしたい。」
産業技術融合領域研究所 阿刀田伸史
■一枚の写真 「磁気光学メモリー」
立命館大学 浮田 宏生
■ホビーハウス 「ステレオ写真の本(56)」
鏡 惟史
■技術の散歩道 「我が文筆活動の清算(最終回)」
日立製作所:江尻 正員

コラム

■オフサイド(編集同人の声) 「不等式の不思議な答」
編集同人:キングマンボ
■O plus E ニュース
■掲示板(会議・展示会などのイベントの開催概要)
■Event Calendar(会議・展示会などのイベント一覧)
■ミニファイル(1ヶ月間の新聞記事の要約)
■New Products(新製品情報)
販売価格: 1,100円(税100円)

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